產品介紹
GY3020晶片頻率分選儀
1 概述
GY3020晶片頻(pin)率(lv)分選儀(yi)是用于測量1~45MHZ頻率(lv) 范圍內石(shi)英晶體白片的(de)諧振頻率(lv),頻率(lv)由(you)頻率(lv)計顯示,測試方便、準(zhun)確。適(shi)用于石(shi)英晶體廠家生產線上測試白片。
1.1 使(shi)用(yong)環(huan)境:
1.1.1 環境溫度(du):0~40℃;
1.1.2 相(xiang)對濕度(du):(20~90)%;
1.1.3 大氣壓強:86~106 kPa。
1.2 安全組別:屬GB4793《電子測(ce)量(liang)儀器安全(quan)要求》 中
Ⅱ類安全儀(yi)器。
1.3 使用電源:220V±10%,50±1Hz。
1.4 消耗功率:小(xiao)于6VA。
1.5 外形(xing)尺(chi)寸:205mm×150mm×85mm。
1.6 重量:2.3 kg。
GY3020晶片頻率分選儀
2 技術參數
頻率范圍:1~45MHz
頻段劃分:2 ~7 MHz
7~15 MHz
15~25MHz
25~35MHz
35~45 MHz
- 上一(yi)篇:CZ-150C晶體阻抗計
- 下一(yi)篇:CB-3371八位等精度智能式頻率計